在物位側(cè)量中,盡管各種測(cè)量方法所用的技術(shù)各不相同,但可把它們歸納為以下幾種測(cè)量原理:
(1)基于力學(xué)原理
敏感元件所受到的力(壓力)的大小與物位成正比,它包括靜壓式、浮力式和重錘式物位測(cè)量等。
(2)基于相對(duì)變化原理
當(dāng)物位變化時(shí),物位與容器底部或頂部的距離發(fā)生改變,通過測(cè)量距離的相對(duì)變化可獲得物位的信息。這種測(cè)量原理包括聲學(xué)法、微波法和光學(xué)法等。
(3)基于某強(qiáng)度性物理量隨物位的升高而增加原理
例如對(duì)射線的吸收強(qiáng)度,電容器的電容量等。