物位測(cè)量的基本原理

  在物位側(cè)量中，盡管各種測(cè)量方法所用的技術(shù)各不相同，但可把它們歸納為以下幾種測(cè)量原理：

  (1)基于力學(xué)原理

  敏感元件所受到的力(壓力)的大小與物位成正比，它包括靜壓式、浮力式和重錘式物位測(cè)量等。

  (2)基于相對(duì)變化原理

  當(dāng)物位變化時(shí)，物位與容器底部或頂部的距離發(fā)生改變，通過測(cè)量距離的相對(duì)變化可獲得物位的信息。這種測(cè)量原理包括聲學(xué)法、微波法和光學(xué)法等。

  (3)基于某強(qiáng)度性物理量隨物位的升高而增加原理

  例如對(duì)射線的吸收強(qiáng)度，電容器的電容量等。